完全絶縁皮膜線
一般
FIW (完全絶縁皮膜線)とは
FIW (Fully Insulated Wire) はスイッチングトランス等で多く使用されているTIW(三層絶縁線）の代替品です。仕上り外径の選択肢が多い事で、低価格で小型トランスが製造できる様になります。さらにTIWに比べ、巻線性、半田付け性が良い利点があります。
FIWは複数回の絶縁皮膜塗布工程を実施しており、皮膜絶縁を保証しています。
エレクトリゾーラのFIWはOBJT2に準拠し、MW85Cの承認を得ています。この数年間、自動車業界や電気・電子部品 (UL60950の様な要求なし)に納入実績があります。エレクトリゾーラのFIWは、MW85Cの規格承認を得ている為、UL 1446に規定される多くの絶縁皮膜システムとしても使用可能です。最終製品でFIWの使用を許可する規格、旧規格 IEC60950は2020年度末に新しい安全製品規格IEC 62368-1 3版が承認され置き換えられました。
FIW線
エレクトリゾーラのFIWは変性ポリウレタンP180（IEC60172準拠 温度指数 180℃ 2万時間 )をベースに開発されました。絶縁層が何層にも重ね塗りされ、高電圧均一性試験をインラインで実施、皮膜欠陥がない事を確認しながら製造されています。
FIWの皮膜厚みは 各種エナメルタイプ、グレードから選択可能です。FIW３は最も絶縁層が薄く、FIW９は最も絶縁層が厚い製品となります。
エレクトリゾーラの標準グレードはFIW 4とFIW 6としており、在庫を準備しています。このグレードは技術的パフォーマンスと手頃な価格のバランスが取れた製品となっています。
規格
FIWは多様な規格に準拠しています。基本的なエナメル線の国際規格 IEC や NEMAに加え、安全規格 , 旧規格IEC 60950, 左記の置換え規格となるIEC62368-1, UL 2353 に準拠しています。
さらに電源トランス規格（IEC 61558-1）の製品規格にも準拠しています。
製品
IEC 60317-56 及び 60317-0-7
NEMA MW85c
UL 2353
試験条件
IEC 60851
IEC UL 60950 付属書 U
IEC 61558-1
IEC 61558-2-16
UL 2353
FIWの優位性
- 皮膜グレードが選択可能(異なる皮膜厚)により 小型トランスの最適化、コスト削減が可能
- 優れた半田付け性
- 優れた巻線性
温度指数の180 °Cは UL60950 付属書Uの耐熱寿命特性に準拠、温度指数155 °C/130 °Cに於いては数値変換で実施。
UL 1446 規格に準拠した実績のある絶縁皮膜システムがエナメルワイヤ（UL規格準拠）に長年使用されています。
例 0.25mm FIW 6,390 °C, 2.4 秒で半田付け可能.
製造工程
基本的な製造工程は通常のエナメル線と似ています。 
製造工程 しかし、FIWの皮膜は最大120層あり,仕上り外径が大きくなります。下記サンプルには複数のエナメル層を見やすくするため、エナメルに異なる色が付けられています。
0.25mm FIW７の多層絶縁皮膜層
更に、ワイヤ全長の皮膜欠陥がない事を保証する為、各製造ライン上に高電圧均一性試験器を設置しています。
技術データ
FIWの標準規格値
FIWの機械的性能、電気的性能、温度性能、その他（半田付性など）は 完全絶縁皮膜線規格 IEC 60317-56に示されています。
UL 2353はIEC 60950 付属書Uと似ていますが、主に短時間の電気的特性が記されています。
新しい安全基準 IEC 62368-1 ではFIWワイヤに対し,電源トランスの安全性規格IEC 61558-2-16 (61558-1)を部分的に流用し,同様の品質要求を行なっています。
絶縁破壊電圧
FIWの絶縁破壊電圧値(BDV)はどの製品規格を適用するかによって計算値が異なります。
エナメル線のFIW規格を適用した場合(IEC 60317-0-7、 60317-56)、絶縁破壊電圧の計算値は 公称導体径と最小絶縁皮膜厚値により計算します。(最小絶縁皮膜厚 = 最小仕上り外径 – 公称導体径)
絶縁破壊電圧最小値はIEC 60317-56準拠
BDV(絶縁破壊電圧) IEC 60317-56準拠電源トランスのFIW規格(IEC 61558-2-16)を適用した場合、最小皮膜厚計算方法が誤っており、最小絶縁皮膜厚が半分の値で計算されています。結果として絶縁破壊電圧値もおよそ半分で基準化されています。
IEC 61558-2-16は,前述の誤計算（絶縁破壊電圧の計算方法）等が訂正され、IEC 61558-1として改訂されています。改訂版の大きな変更点として 180 °Cで1分間、IEC 60317-0-7 規格値に係数0.85を掛けた絶縁耐力を維持する要求が加わりました。この絶縁耐力は室温での絶縁破壊電圧(rms)によって測定されます。
IEC 62368はIEC 61558の絶縁破壊電圧値を参照していますが、IEC 61558とは異なり180 °Cでの試験は規格化していません。
絶縁破壊電圧計算値
IEC 60317-0-7準拠した最小絶縁破壊電圧は公称導体径とFIWの皮膜グレードから計算できます。
サイズ
FIWのグレードは裸銅線に塗られる皮膜量で決まります。
公称導体径毎に最小絶縁破壊電圧、必要な絶縁皮膜厚（グレード）を下記リンクにある計算器で確認できます。
質量 / 長さ
FIWは絶縁皮膜が厚い為、長さ及び質量の関係は標準エナメルワイヤと比べ大きく異なります。
公称導体径 0,071 - 0,710 mm 、仕上り外径FIW 3 - FIW 9（IEC 60317-56準拠）と1kg当たりの線長(km)の対比は下記リンクを参照ください。
認証
FIW は下記規格に準拠しています。
UL for MW85C, UL File OBMW2.E331840
UL for OBJT2, UL File OBJT2.E316900
VDE 認証番号 40036030